ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Physical Limitations of Semiconductor Devices

دانلود کتاب محدودیت های فیزیکی دستگاه های نیمه هادی

Physical Limitations of Semiconductor Devices

مشخصات کتاب

Physical Limitations of Semiconductor Devices

دسته بندی: ابزار
ویرایش: 1 
نویسندگان: ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 0387745130, 9780387745138 
ناشر: Springer 
سال نشر: 2008 
تعداد صفحات: 337 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 8 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 46,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب محدودیت های فیزیکی دستگاه های نیمه هادی: ابزار دقیق، نیمه هادی ها



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 7


در صورت تبدیل فایل کتاب Physical Limitations of Semiconductor Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب محدودیت های فیزیکی دستگاه های نیمه هادی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب محدودیت های فیزیکی دستگاه های نیمه هادی

هدف این کتاب با ارائه پیوند مهم بین دانش نظری در زمینه فیزیک غیر خطی و مسائل کاربردی در میکروالکترونیک، رایج کردن رویکرد فیزیکی برای اطمینان از قابلیت اطمینان است. یکی دیگر از جنبه های منحصر به فرد کتاب، پوشش داده شده به نقش عیوب ساختاری محلی، توصیف ریاضی آنها، و تأثیر آنها بر قابلیت اطمینان دستگاه های نیمه هادی است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Providing an important link between the theoretical knowledge in the field of non-linier physics and practical application problems in microelectronics, the purpose of the book is popularization of the physical approach for reliability assurance. Another unique aspect of the book is the coverage given to the role of local structural defects, their mathematical description, and their impact on the reliability of the semiconductor devices.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی